| Revista: | Mundo nano. Revista interdisciplinaria en nanociencias y nanotecnología |
| Base de datos: | PERIÓDICA |
| Número de sistema: | 000434442 |
| ISSN: | 2448-5691 |
| Autores: | Rivera, Margarita1 Arenas Alatorre, Jesús1 |
| Instituciones: | 1Universidad Nacional Autónoma de México, Instituto de Física, Ciudad de México. México |
| Año: | 2019 |
| Periodo: | Jul-Dic |
| Volumen: | 12 |
| Número: | 23 |
| País: | México |
| Idioma: | Español |
| Tipo de documento: | Artículo |
| Enfoque: | Analítico, descriptivo |
| Resumen en español | En las últimas décadas, las técnicas de microscopía electrónica (EM) y microscopía de barrido por sonda (SPM) han contribuido enormemente al estudio de nanomateriales en muchos campos de investigación, dando información de propiedades morfológicas, estructurales, de superficie, eléctricas y magnéticas, entre muchas otras. Los avances tecnológicos recientes asociados con estas técnicas han permitido alcanzar límites de resolución espacial que hace 25 años era inimaginables, siendo los últimos valores reportados de decenas de picómetros (10-12 m). Adicionalmente, estas técnicas han crecido en sus capacidades de análisis en el campo de las nanociencias y nanotecnología, dando lugar a otras microscopías independientes, o incluso complementarias, que han contribuido al entendimiento de fenómenos de interacción y propiedades fisicoquímicas a escalas atómicas y moleculares. En este articulo, se hace un análisis de la trascendencia actual que tienen las técnicas de microscopía electrónica y de microscopia de barrido por sonda, y se mencionan brevemente algunos de sus alcances actuales como métodos de caracterización y análisis. Finalmente, se señalan algunas retos, así como perspectivas, en cuanto a su enorme potencial para impulsar el estudio y entendimiento de procesos físicos y químicos a nanoescala |
| Resumen en inglés | Over the last few decades, electron microscopy (EM) and scanning probe microscopy (SPM) techniques have had a great contribution to the study of nanomaterials in many research fields, providing morphological, structural, interfacial, electric and magnetic information, among many others. Recent technological advances of these techniques have helped to achieve unprecedent spatial resolution limits unimaginable 25 years ago, being the last reported values of tenths of picometers (10-12 m). In addition, these techniques have grown in analytical capabilities in the nanoscience and nanotechnology fields, resulting in new independent, or even complimentary, techniques that have improved the understanding of interaction phenomena and physicochemical properties at the atomic and molecular scale. In this paper, an analysis of the actual importance of these techniques as well as some of their recent characterization and analytical achievements are discussed. Finally, in view of its enormous progress and large potential in the study and understanding of physical and chemical processes at the nanoscale, future challenges and perspectives are underlined |
| Disciplinas: | Física y astronomía |
| Palabras clave: | Optica, Microscopía electrónica de barrido, Microscopía electrónica de barrido de emisión de campo, Microscopía electrónica de transmisión, Nanoestructuras, Microscopía electrónica de transmisión de barrido, Microscopía de fuerza atómica, Microscopía de efecto túnel, Espectroscopía de tunelamiento de barrido, Microscopía de fuerza magnética |
| Keyword: | Optics, Scanning electron microscopy, Field emission electron microscopy, Transmission electron microscopy, Nanostructures, Scanning transmission electron microscopy, Atomic force microscopy, Scanning tunneling microscope, Scanning tunneling spectroscopy, Magnetic force microscopy |
| Texto completo: | Texto completo (Ver HTML) Texto completo (Ver PDF) |
